- EAN13
- 9781784057930
- ISBN
- 978-1-78405-793-0
- Éditeur
- ISTE
- Date de publication
- 10/12/2021
- Séries
- Applications et métrologie à l'échelle nanométrique (1)
- Nombre de pages
- 206
- Poids
- 200 g
- Langue
- français
- Fiches UNIMARC
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1 - Applications et métrologie à l'échelle nanométrique
De Philippe Pougnet, Pierre Richard Dahoo, Abdelkhalak el Hami
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